회사 측은 "일반적인 촬영 방법은 방사선 노출 감지 및 패널 리셋 후 신호를 축적하게 되어 노출 감지까지 조사된 방사선이 손실로 발생하지만, 본 특허의 촬영 방법은 방사선 노출 감지와 신호 축적을 동시에 할 수 있어 방사선 손실이 없다"고 설명했다.
권성회 기자 street@asiae.co.kr
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