머리카락 1만분의 1 현미경 탐침 개발

기계연, 나노와이어 현미경 탐침 기술 개발…나노 구조물 표면과 전자기 정보 확인 가능

머리카락보다 최대 1만분의 1정도 얇은 와이어를 현미경 탐침(Microscopy tip)으로 쓸 수 있는 기술이 국내 연구진에 의해 개발됐다.

한국기계연구원(원장 이 상천)은 미세 반도체 소자나 나노소재의 전기적 특성을 측정할 수 있는 ‘나노와이어 현미경 탐침(Microscopy tip) 기술’을 개발했다고 13일 밝혔다.

한국기계연구원 나노융합기계연구본부 한창수 박사와 김준동 박사가 개발한 이 기술은 전도성 나노와이어를 이용해 나노 구조물의 표면과 전자기에 대한 정보를 함께 얻을 수 있다.













이 기술은 머리카락의 1000분의 1∼10000분의 1에 불과한 나노와이어(Nanowire)를 ‘전계(Electric field)’를 이용, 현미경 탐침으로 쓸 수 있게 배치하는 방식이다.

특히 평상시의 압력상태에서도 만들 수 있고 미세가공 등 복잡하고 어려운 공정도 필요 없어 기존 현미경 탐침 제작비보다 최대 10분의 1가량 적은 비용을 들여 미세 구조물에 대한 전기·자기정보를 얻을 수 있는 특징을 갖고 있다고 연구원은 설명했다.

김준동 기계연구원 박사는 “나노와이어를 이용, 나노구조체에 대한 표면 및 전기정보를 얻은 것은 이번이 세계에서 첫 번째”라며 “학문적으로는 나노소재를 이용한 기능성 구조체(Functional nanostructure)를 만들 수 있다는 점을 확인한 것”이라고 말했다.

노형일 기자 gogonhi@asiae.co.kr