씨앤에이아이, 합성데이터 기술로 오탐률 개선

검수장비 오탐률 13.3%포인트 개선

씨앤에이아이가 생성 인공지능(AI) 기술을 활용, 제품 검사 설비의 정확도를 향상시키며 향후 제조 분야에서의 활용 가능성을 높였다. 씨앤에이아이(CN.AI)는 최근 HL만도와 제품 외관 검사 설비의 정확도 향상을 위한 불량품 합성데이터 생성 프로젝트를 진행, 오탐률 수치감소 결과를 확인했다고 25일 밝혔다.

이번 프로젝트는 불량제품에 대한 검사 설비 성능을 개선, 품질관리 프로세스를 강화하기 위해 진행됐다. 활용된 불량품 합성데이터는 씨앤에이아이의 이미지 생성AI 플랫폼인 티브(Tivv)로 만들었다.

씨앤에이아이는 HL만도가 제공한 기본 데이터세트를 기반으로 생성AI 기술을 활용, 불량품 이미지를 7000장 생성해 HL만도의 AI분류모델에 학습시켰다. 그 결과 오탐률이 기존 대비 13.3%포인트 개선됐다.

합성데이터는 실제 데이터의 통계적 분포에 따라 생성한 가상의 데이터로, 데이터 부족 및 편향 문제를 해결해 AI성능을 높이는 데 사용된다. 김보형 씨앤에이아이 대표는 "통상적으로 제조업의 경우 AI모델이 탑재된 제품 검사 장비를 학습시키기 위한 불량품 데이터가 100장이 안 돼 모델 성능을 확보하기 어렵다"면서, "이번 프로젝트를 통해 불량품 합성데이터의 유효성과 적용 가능성을 확인했다는 점에서 향후 다양한 제조 분야 내 합성데이터의 활용 가치가 높아질 것으로 기대한다"고 말했다.

김철현 기자 kch@asiae.co.kr