테스, 반도체 소자 평가방법 특허

[아시아경제 오현길 기자] 테스 는 p-n 접합 구조를 포함하는 반도체 소자의 n형 반도체층 평가방법에 대한 특허권을 취득했다고 15일 공시했다.

회사측은 이 특허가 태양전지 및 제조장치와 관련된 것으로 특허기술 적용을 통한 제품경쟁력을 강화하는데 쓰인다고 덧붙였다.

오현길 기자 ohk0414@