오성엘에스티, 반도체 검사용 테스터 특허권 취득

[아시아경제 송화정 기자] 오성첨단소재 는 반도체 검사용 번인 테스터에 대한 특허권을 취득했다고 6일 공시했다.

오성엘에스티는 "이 발명은 반도체 검사용 번인 테스터에 있어서 기존의 문제점을 개선시켜 보다 더 정확한 테스트를 수행할 수 있는 기술"이라며 "이 기술을 적극적으로 활용해 시장경쟁력 우위를 확보할 계획"이라고 밝혔다.

송화정 기자 yeekin77@