김영민 특허청장, 한·일 특허청장회의 참석

29일 일본 동경에서 특허·디자인·상표 등 산업재산권 분야 교류 및 협력 방향 논의…심판정보, 분류정보 등 두 특허청 자료교환 양해각서(MOU)도 체결

[아시아경제 왕성상 기자] 김영민 특허청장은 29일 일본 동경에서 열리는 제26차 한·일 특허청장 회의에 참석, 특허·디자인·상표 등 산업재산권 분야에서 두 나라간 교류와 협력방향을 논의한다.

김 청장은 이번 회의에서 두 나라 특허청이 꾸준히 해오고 있는 특허심사 공동선행기술조사 및 특허심사하이웨이(PPH) 관련 내년도 업무추진방향을 협의한다.

그는 또 심판정보, 분류정보 등 국민들에게 더 내놓을 수 있는 두 특허청간 자료교환에 관한 양해각서(MOU)도 체결한다.

왕성상 기자 wss4044@asiae.co.kr