Shin Taein获KAIST博士学位，在半导体设计国际学会上荣获“最佳论文奖”

韩国科学技术院（KAIST）电气与电子工程学部 Kim Jungho 教授研究室（KAIST TERA Lab）所属的博士 Shin Taein（28岁）被选为国际半导体设计学会“DesignCon 2025”的“最佳论文奖”获得者。

申太仁博士

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TERA Lab 相关人士4日表示：“博士 Shin Taein 在2024年末提交并被录用的100余篇论文中，因其对该领域技术创新的贡献得到认可，获得了评审委员的高度评价。”DesignCon 是在半导体及封装设计领域公认具有权威性的国际学会。

Shin 博士论文的主题为“利用强化学习的基于电源噪声抖动的高带宽存储器（HBM）集成电源完整性设计（PSIJ Based Integrated Power Integrity Design for HBM Using Reinforcement Learning: Beyond the Target Impedance）”。

在该论文中，Shin 博士以包含时间信息的电源噪声抖动（Power supply noise induced jitter）为基准，针对高带宽存储器（HBM）封装的电源完整性设计，提出了利用人工智能（AI）对影响抖动的设计要素进行优化设计的方法论，因此备受关注。

TERA Lab 相关人士强调称：“Shin 博士的论文验证了可以利用人工智能强化学习和电源噪声抖动，有效提升并设计电源完整性，从而突破传统基于阻抗的电源分配网络设计的局限性，并且在利用人工智能（AI）开展研究的独创性方面也获得了评审委员的高度评价。”

博士 Shin Taein 表示：“为了实现大规模人工智能（AI），在日益高速化的下一代基于 HBM 的封装系统设计中，将以本次提出的方法论为基础，为半导体信号及电源完整性设计奠定基础。”博士 Shin Taein 在3年前也曾在同一活动中获得最佳论文奖。

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Kim Jungho 教授研究室目前共有27名学生，其中硕士研究生17名、博士研究生10名，正在利用强化学习、模仿学习等人工智能（AI）机器学习（Machine Learning）技术，对应用于半导体前后工艺的各类封装与互连结构设计进行优化研究。除此之外，还在同步开展面向大规模人工智能（AI）实现的基于 HBM 的计算架构相关研究。

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