KIST研究团队
开发简便表面分子分布预测方法
实现生产过程质量管理
打开大规模生产之路

韩国研究团队打开了实现“梦想材料”MXene(麦辛)大规模生产的通路。

在麦辛中预测的霍尔散射因子  <br>在麦辛中测量霍尔散射因子的方法中,B表示磁场方向,原本应沿直线运动的电子会在磁场作用下向右偏转,而偏转程度因表面官能团不同而变化。图片出处 KIST提供

在麦辛中预测的霍尔散射因子
在麦辛中测量霍尔散射因子的方法中,B表示磁场方向,原本应沿直线运动的电子会在磁场作用下向右偏转,而偏转程度因表面官能团不同而变化。图片出处 KIST提供

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韩国科学技术研究院(KIST)17日表示,Lee Seungcheol 韩印合作中心博士研究团队利用MXene的磁输运(Magnetoresistance)特性,开发出一种预测其表面分子分布的方法。运用这一方法,只需简单测量即可分析MXene的分子分布,从而在生产过程中实现质量管理,有望由此打通迄今为止难以实现的大规模生产之路。


2011年开发的MXene是一种金属层与碳层交替堆叠的二维纳米材料,具备高电导率,并可与多种金属化合物组合,是可用于半导体、电子器件、传感器等多种产业的材料。要充分利用MXene,掌握其表面覆盖分子的种类和含量至关重要。如果表面覆盖的分子是氟,MXene的电导率会降低,电磁波屏蔽效率随之下降。然而,由于其厚度仅约1纳米(nm,十亿分之一米),即便使用高性能电子显微镜,对其表面附着分子进行分析也需耗时数日,因此迄今难以实现大规模生产。


研究团队注意到,表面附着分子的不同会导致电导率或磁性特性发生变化,由此开发出一个用于预测二维材料物性的程序。结果表明,通过计算MXene的磁输运特性,无需额外装置,即可在常压和室温条件下成功分析吸附在MXene表面的分子种类和含量。


通过已开发的物性预测程序对MXene表面进行分析后,研究团队预测到,影响磁输运的霍尔散射因子(Hall Scattering Factor)会因表面分子种类不同而发生剧烈变化。霍尔散射因子是表征半导体材料电荷输运特性的物理常数。研究团队确认,即使制造的是同一种MXene,当表面分子为氟时,其霍尔散射因子最高,为2.49;为氧时为0.5;为氢氧基时为1,并据此实现了对分子分布的分析。


MXene的应用领域会因霍尔散射因子的数值而不同:当其值低于1时,可用于高性能晶体管、高频信号产生器件、高效率传感器以及光探测器等;当其值高于1时,则可应用于热电材料、磁传感器等。考虑到MXene的尺度小于数纳米,未来有望大幅缩小可应用器件的尺寸并显著降低其所需功耗。


该中心主任表示:“本次研究不同于以往专注于纯MXene制备与特性的研究,而是开发了新的表面分子分析方法,便于对已制备的MXene进行简易分类”,“以这一成果为基础,预计有望实现具有均一品质的MXene的大规模生产”。



本次研究结果被纳入纳米科学领域国际学术期刊《Nanoscale》(影响因子6.7)评选的年度值得关注论文(2023 Hot Article Collection),并于今年6月28日发表。


本报道由人工智能(AI)翻译技术生成。

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