国产半导体与电子元件在太空正式展开性能验证…民营航天产业竞争力获验证
全球超小型卫星企业Nara Space表示,其成功与搭载在“世界”号运载火箭第4次 발사체上的空间验证卫星“E3T(EEETester) 1号”实现双向通信,并于8日对外公布。继11月29日发射的“京畿卫星-1”之后,相隔两天又与两颗卫星全部实现通信,再次验证了自身在卫星制造与运行方面的能力。
E3T是一颗用于验证在韩国国内开发的航天用半导体、电子器件和部件能否在真实太空环境中正常工作的技术试验卫星,作为航天航空厅实施、韩国航空宇宙研究院主管的“国产器件与部件航天验证支援项目”的一环而研制完成。Nara Space负责开发12U平台本体。
E3T上搭载了三星电子的动态随机存取存储器(DRAM)和闪存(NAND Flash)、韩国科学技术院(KAIST)混合信号集成电路研究室开发的模数/数模转换专用集成电路(ADC/DAC ASIC),以及MID公司制造的静态随机存取存储器(SRAM)等,合计来自3家机构的13种国产部件。其中8种是航天航空厅在2024年实现国产化的航天级部件。
卫星今后将在辐射、温度变化等极端太空环境中,在6至12个月期间定期测量各部件性能并将数据回传地面。这些数据今后将用于提出“航天部件验证用标准平台”方案。舆论认为,目前已进入初期运行阶段的该平台,已经取得了验证平台可靠性的初步成果。
Nara Space计划以两颗卫星连续通信成功为契机,在证明其多种卫星星座运营能力的同时,推进高性能平台的产品化。Nara Space系统综合组组长Kim Geuknam表示:“E3T的设计不仅针对单一实验用途,还可容纳多样化任务。本次任务将帮助我们获得标准平台开发的技术传承,从而引领市场差异化。”
Nara Space代表Park Jaepil强调:“这是必须在真实太空中验证国产部件的高难度任务,但平台稳定地履行了职责。本次成果将成为今后以民间为中心的航天产业时代中的核心技术资产。”
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