인텍플러스, 표면형상 측정시스템 관련 특허권 취득
이혜영
기자
입력
2013.08.28 12:22
수정
2013.08.28 12:22
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[아시아경제 이혜영 기자]
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는 표면형상 측정시스템 및 이를 이용한 측정방법에 관한 특허권을 취득했다고 28일 공시했다.
이혜영 기자 itsme@asiae.co.kr
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