인텍플러스, 표면 형상 측정 시스템 美 특허

[아시아경제 김철현 기자] 인텍플러스 는 표면 형상 측정 시스템 및 이를 이용한 측정 방법에 대한 미국 특허를 취득했다고 7일 공시했다. 회사는 이를 외관검사장비의 경쟁력 강화에 활용할 계획이다.

김철현 기자 kch@