[아시아경제(대전) 정일웅 기자] 특허청은 지난달 30일 이인실 특허청장이 특허청 서울사무소에서 화상으로 ‘제28차 한·중 특허청장회의’에 참석했다고 1일 밝혔다. 회의는 특허, 상표, 디자인, 심판, 교육 등 분야별 실무회의에서 논의된 사항을 양국 특허청장이 승인하고 앞으로의 상호 협력방향을 논의하는 자리로 마련됐다. 이 청장(왼쪽)이 협의의사록(RoD)에 서명한 후 중국 션창위(申長雨·오른쪽) 국가지식산권국장과 협의 의사록을 공유하고 있다. 특허청 제공
정일웅 기자 jiw3061@asiae.co.kr
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